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光學(xué)或成像系統(tǒng)的像平面通常不僅接收成像輻射,還接收能降低成像對(duì)比度的雜散光。這種不需要的輻射稱為雜散光(veiling glare)。鏡頭的雜散光(veiling glare)與鏡頭系統(tǒng)和相機(jī)機(jī)身組合的雜散光(veiling glare)有很大不同。在后一種情況下,來自圖像傳感器的部分成像輻射的反射,再加上來自鏡頭系統(tǒng)和相機(jī)機(jī)身的進(jìn)一步反射和散射會(huì)顯著貢獻(xiàn)雜散光。一種測(cè)量雜散光(veiling g
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光學(xué)或成像系統(tǒng)的像平面通常不僅接收成像輻射,還接收能降低成像對(duì)比度的雜散光。這種不需要的輻射稱為雜散光(veiling glare)。鏡頭的雜散光(veiling glare)與鏡頭系統(tǒng)和相機(jī)機(jī)身組合的雜散光(veiling glare)有很大不同。在后一種情況下,來自圖像傳感器的部分成像輻射的反射,再加上來自鏡頭系統(tǒng)和相機(jī)機(jī)身的進(jìn)一步反射和散射會(huì)顯著貢獻(xiàn)雜散光。
一種測(cè)量雜散光(veiling glare)的方法稱為積分法。用積分方法,目標(biāo)對(duì)象是一個(gè)被擴(kuò)展均勻光源包圍的小的黑色區(qū)域。雜散光系數(shù)(veiling glare index)指定為黑色區(qū)域成像中的輻照度與擴(kuò)展光源成像中的輻照度之比。
一般來說,積分方法適用于場(chǎng)景通常具有大致均勻輻射的系統(tǒng),例如在陰天條件下或太陽在相機(jī)或鏡頭系統(tǒng)后的景觀成像。